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步入式(shi)(shi)老化箱是針對高性(xing)能電子(zi)(zi)產(chan)(chan)品(pin)（如：計算機整機，顯示器，終(zhong)端機，車(che)用(yong)電子(zi)(zi)產(chan)(chan)品(pin)，電源供應器，主機板、監(jian)視器、交換式(shi)(shi)充電器等）仿真出一種高溫(wen)、惡劣環境測試的設(she)備，是提高產(chan)(chan)品(pin)穩(wen)定(ding)性(xing)、可靠(kao)性(xing)的重(zhong)要(yao)實驗設(she)備、是各生(sheng)產(chan)(chan)企業提高產(chan)(chan)品(pin)質量和競(jing)爭性(xing)的重(zhong)要(yao)生(sheng)產(chan)(chan)流程，該設(she)備廣泛應用(yong)于電源電子(zi)(zi)、電腦、通訊、生(sheng)物制藥(yao)等領域(yu)

光老化試(shi)(shi)驗箱：該(gai)儀器(qi)適用于工業產(chan)品(pin) 高、低溫的(de)可靠性(xing)試(shi)(shi)驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天(tian)、船舶兵器(qi)、高等(deng)(deng)院校、科(ke)研(yan)單位等(deng)(deng)相(xiang)關產(chan)品(pin)的(de)零部件及材料(liao)在高、低溫（交變）循(xun)環變化的(de)情況下，檢 驗其各項(xiang)性(xing)能(neng)指標。